API tombe à pic pour MENAPIC

Analyse optique

Analyse optique

Société innovante créée en mars 2010 à LILLE, issue des laboratoires du CNRS,  Menapic est spécialisée dans la fourniture de solutions d’analyses pour les revêtements ultra-minces (de 100 µm à 1 nm) et propose des équipements et des services d’analyses.

Menapic vient de bénéficier du dispositif API de Total Développement Régional pour l’encouragement à l’innovation des PME. Son offre est basée sur l’utilisation de la technologie APiC® (Acoustique Picoseconde Colorée), une technologie originale et brevetée, de détection optique d’effets acoustiques par laser pulsé.

La technologie permet aux clients (dont Total), et partenaires de Menapic qui conçoivent et produisent des systèmes faisant appel à des couches minces de :

  • diminuer leur temps d’accès au marché de produits innovants ;
  • avoir un contrôle qualité plus performant ;
  • réduire les coûts de production en optimisant les rendements.

Les revêtements ultra-minces sont présents partout, dans les téléphones et ordinateurs, les panneaux solaires, sur les lunettes, dans les satellites, … Menapic a l’ambition de devenir la référence mondiale pour l’analyse d’adhérence des traitements et revêtements ultraminces. Déjà positionnée comme expert à travers son activité de services, Menapic souhaite maintenant proposer des équipements pour du contrôle qualité en ligne, en particulier pour des applications dans le secteur de la microélectronique ainsi que pour le marché des équipements de dépôts de couches minces.

La technique est particulièrement utile pour sonder les interfaces et l’adhésion des couches entre elles. Elle permet d’étudier des empilements de plusieurs couches mélangeant des matériaux aussi divers que des verres ou des métaux. Aucune autre technique ne permet aujourd’hui d’atteindre une résolution à l’échelle du nanomètre pour l’analyse d’adhérence des interfaces. La mesure des signatures acoustiques et de leurs temps de propagation permet de reconstruire les propriétés physiques des différentes couches de matériaux (élasticité, épaisseur, indice optique), y compris de couches enterrées sous des couches opaques et donc inaccessibles aux longueurs d’ondes classiquement utilisées par les autres technologies de métrologies non destructives, comme l’ellipsométrie.

www.menapic.com